高压阻抗测量系统-超硬材料国家重点实验室

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高压阻抗测量系统

信息来源:本站 发布时间:2018-01-04

名称:高压阻抗测量系统

厂家:Solartron Analytical

型号:1296A搭配1260A

启用日期:2006年12月

简介:

    1260使用单正弦相关技术,从本质上消除了噪声和谐波对仪器测量的干扰。搭配Solartron Analytical应用软件,1260可以进行先进的电化学和材料测试,具有精度高,灵活性和可靠性。1296测量系统精度足以测量低电导率、低损耗材料。1296介电接口系统克服多重测量障碍,实现了快速重复频率阻抗测量,可对聚合物,介电材料,压电/铁电体,陶瓷,离子导体等多种特定材料的测量。

附件配置:

    Conductivity meter 1296A

    Impedance analyzer / phase 10 µHz – 32 MHz | 1260AEM7

主要功能:

    可以进行材料阻抗谱测量,对于研究介电系数,弛域频率,晶格、晶界电输运性质研究,用于分析电子或离子导电机制。

技术参数:

    频率范围:10-3Hz~107Hz

    电阻范围:104Ω~1014Ω

样品要求:

    通过布置在样品上的电极进行测量,要求样品块状。

地点:唐敖庆楼C区219室

联系人:韩永昊

联系电话:

E-mailhanyh@jlu.edu.cn