电子探针-仪器设备-吉林大学超硬材料国家重点实验室

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电子探针

信息来源:本站 发布时间:2016-09-29


名称:电子探针

厂家:日本JEOL

型号:JXA—8200

启用日期:20109

简介:

      JXA—8200 电子探针( Electronic Probe Microanalyzer )元素测量范围 5 B ~ 92 U , 波长范围 0.087 nm ~ 9.3 nm , 加速电压 0.2 kV ~ 30kV, 二次电子图像分辨率为 6nm(WD 11mm , 30 kV) 。 可以对试样中微小区域的化学组成进行定性或定量分析,进行点、线、面扫描分析。附件 电子背散射衍射系统( EBSD ), 可以在亚微米甚至纳米尺度上进行晶体取向分析,晶体夹角(位向差)分析,结构分析,晶体粒度及晶界类型分析,重位点阵晶界分布分析,相鉴定等。

附件配置:

      JEOL能谱,牛津EBSD

主要功能:

      能谱、波普、EBSD

技术参数:

      元素测量范围 5 B ~ 92 U , 波长范围 0.087 nm ~ 9.3 nm , 加速电压 0.2 kV ~ 30kV, 二次电子图像分辨率为 6nm(WD 11mm , 30 kV)

样品要求:

      1.磁性粉末样品不能实验,2.样品表面干燥清洁,无有机物污染。

地点:唐敖庆楼C109

联系人:李冬妹

联系电话:0431-85168712

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