同步分析仪

        Linseis STA PT 1750 Linseis制造的高端热分析仪,具有高真空度和TG的漂移稳定性,较高的量热灵敏度,短的时间常数和优良的样品室腔体。这些性能保证了系统在长于生命期内具有优越的分辨率和基线稳定性能。同时系统提供不可比拟的TGDSC的分辨率。系统采用模块化设计,可以更换加热炉,匹配不同的测量系统和各种材质的坩埚。联用功能和这些附件保证了所有应用领域。我实验室所购置的Linseis STA PT 1750 ,能够提供RT-2000K可控连续变温温度平台。其中,提供的高温背景和稳定的连续变温及保温平台是目前国际上同类仪器中的最高水平。STA PT 1750在基于此温度系统平台上,利用各种传感器支架选件可进行热重测量、差热测量和同步差示扫描量热分析。典型应用:物质相变--熔融与结晶、多晶形、相图、液晶转变、固液转变、固相转变、玻璃化转变。分解起始点,热焓变化值和比热Cp的精确测量。

温度平台技术参数:

温控范围: RT - 2000K 连续控制

温度速率:2 - 30 K/min

温度控制模式:加热模式、恒温保温模式、降温模式

真空度:10-5mbar

样品质量:25mg-25g

分辨率:0.5μg

样品腔气氛:惰性、真空、氧化、还原

测量传感器:TG, TG-DSC

 

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