微区X光衍射仪

        主要技术指标:SMART APEX II CCD探测器装在D8 X射线测角仪高精度导轨上(3 kW),三轴(ω,2θ,Φ)测角仪,测样平台固定在× = 54.74处,Φ转动360 ,ω/2θ最小步长0.0001°,再现性±0.0001,样品至探测器的距离可在2.5~25 cm之间调整,VIDEO成像,视频显微镜放大倍数30~110倍,分辨率3μm,相机用彩色1/2″CCD,用于实时观察试样和捕获图象。主要功能和用途:单晶结构分析应用范围十分广泛,凡是可获得单晶体的样品均可用于分析。该方法样品用量少,只需0.5 mm大小的晶体一粒,即可获得被测样品的全部三维信息,结构包括原子间的键长、键角、分子在晶体中的堆积方式,分子在晶体中的相互作用以及氢键关系、π-π相互作用等各种有用信息。

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