场发射透射电子显微镜-超硬材料国家重点实验室

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场发射透射电子显微镜

信息来源:本站 发布时间:2016-09-28 点击人数:


名称:场发射透射电子显微镜

厂家:日本电子JEOL

型号:JEM-2200FS

启用日期:20125

简介:

       JEM-2200FS分析型电子显微镜配备场发射电子枪和Ω型内置式能量过滤器(Omega过滤器)。利用过滤器的功能,不仅可以进行样品中的元素分析,还能分析化学结合状态,从零损失像和能量过滤像中获得感兴趣的有用信息。采用四级中间镜和两级投影镜的新成像系统,在很大的倍率和相机长度范围,实现了TEM像及衍射花样的磁转角补偿(无磁转角)。新的测角台采用了压电陶瓷,能顺利操作原子级的视场搜索。

附件配置:

       Gatan994高分辨相机,JEOL能谱,双倾样品杆,铍双倾样品杆

主要功能:

    高分辨晶格像HRTEM,电子衍射SAED,能量散射谱EDS,电子能量损失谱EELS,能量过滤像,高角度环形暗场像HAADF

技术参数:

    点分辨率0.19nm,线分辨0.1nm,能量分辨率0.8eV,能量偏移3000V,最大放大倍数150万倍,双倾杆角度±25°

样品要求:

       1.磁性样品不能实验,2.直径φ3的样品或透射电镜专用载网,有厚度小于200nm的薄区,3.样品表面干燥清洁,无有机物污染。

地点:唐敖庆楼C103 TEM

联系人:王飞

联系电话:0431-85168877

E-mailfengniaojituan@jlu.edu.cn