名称：场发射透射电子显微镜

厂家：日本电子JEOL

型号：JEM-2200FS

启用日期：2012年5月

简介：

JEM-2200FS分析型电子显微镜配备场发射电子枪和Ω型内置式能量过滤器(Omega过滤器)。利用过滤器的功能，不仅可以进行样品中的元素分析，还能分析化学结合状态，从零损失像和能量过滤像中获得感兴趣的有用信息。采用四级中间镜和两级投影镜的新成像系统，在很大的倍率和相机长度范围，实现了TEM像及衍射花样的磁转角补偿（无磁转角）。新的测角台采用了压电陶瓷，能顺利操作原子级的视场搜索。

附件配置：

Gatan994高分辨相机，JEOL能谱，双倾样品杆，铍双倾样品杆

主要功能：

高分辨晶格像HRTEM，电子衍射SAED，能量散射谱EDS，电子能量损失谱EELS，能量过滤像，高角度环形暗场像HAADF

技术参数：

点分辨率0.19nm，线分辨0.1nm，能量分辨率0.8eV，能量偏移3000V，最大放大倍数150万倍，双倾杆角度±25°

样品要求：

1.磁性样品不能实验，2.直径φ3的样品或透射电镜专用载网，有厚度小于200nm的薄区，3.样品表面干燥清洁，无有机物污染。

地点：唐敖庆楼C区103 TEM室

联系人：王飞

联系电话：0431-85168877

E-mail：fengniaojituan@jlu.edu.cn