名称：双束电子显微镜

厂家：美国FEI

型号：Scios

启用日期：2017年5月

简介：

FEI Scios™ 是一款具有超高分辨率分析功能的 DualBeam™ 系统，可以为包括磁性材料在内的各种样品提供卓越的二维和三维性能。由于配备了多种创新功能以提高处理能力、精度和使用便易度，FEI Scios已成为学术研究、政府研究和工业研究等各种环境下进行高级研究与分析的理想之选。

附件配置：

主要功能：

二次电子像SE，背散射电子像BSE，离子束切割，制作TEM样品

技术参数：

分辨率：电子束1.0nm；离子束3.0nm

样品要求：

1.磁性粉末样品不能实验，2.样品表面干燥清洁，无有机物污染。

地点：唐敖庆楼C区103 FIB室

联系人：王飞

联系电话：0431-85168877

E-mail：fengniaojituan@jlu.edu.cn