名称：电子探针

厂家：日本JEOL

型号：JXA—8200

启用日期：2010年9月

简介：

JXA—8200电子探针（Electronic Probe Microanalyzer）元素测量范围5 B ~ 92 U， 波长范围0.087 nm ~ 9.3 nm， 加速电压0.2 kV ~ 30kV,二次电子图像分辨率为6nm(WD 11mm , 30 kV)。 可以对试样中微小区域的化学组成进行定性或定量分析，进行点、线、面扫描分析。附件 电子背散射衍射系统（EBSD）， 可以在亚微米甚至纳米尺度上进行晶体取向分析，晶体夹角（位向差）分析，结构分析，晶体粒度及晶界类型分析，重位点阵晶界分布分析，相鉴定等。

附件配置：

JEOL能谱，牛津EBSD

主要功能：

能谱、波普、EBSD

技术参数：

元素测量范围5 B ~ 92 U， 波长范围0.087 nm ~ 9.3 nm， 加速电压0.2 kV ~ 30kV,二次电子图像分辨率为6nm(WD 11mm , 30 kV)。

样品要求：

1.磁性粉末样品不能实验，2.样品表面干燥清洁，无有机物污染。

地点：唐敖庆楼C区109室

联系人：李冬妹

联系电话：0431-85168712

E-mail：